东芝EX1 随机4K测试散点图
这个测试可以反映大负荷使用情况下的磁盘性能。测试盘:东芝EX1 64GB ,原生USB3.0接口,NTFS分区
测试步骤:使用IOmeter 1.1 QD=32,Pseudo数据模型,8GB LBA,4K对其写入,测试1000秒,每一秒取点,绘制IOPS——时间图像
前100秒散点图
可以看出4K写入性能前10秒较好,IOPS可上百,随后立即下降,一直处于0~40的范围。这可能是某些人会觉得程序开多了,WTG系统变卡的原因。
与之对比,机械硬盘性能则比较稳定,4K 写入IOPS一直保持在100上下。
EX1原始测试数据:
机械硬盘原始测试数据:
创见JF750 4K QD32随机写入散点图
60秒前IOPS保持在200,之后开始下降, 并有大量0点出现
相比来说还是PS2251-01主控性能更强
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